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試驗機簡介

新一代的高頻疲勞靜動態壽命試驗機，將電磁激發的動態試驗機與功能齊全的靜態材料試驗機結合(he)在一起。開發的“二合(he)一”功(gong)能(neng)使(shi)之成為可(ke)能(neng)。

除(chu)了用(yong)(yong)于(yu)靜態拉伸和壓縮測試(shi)外，試(shi)驗機特(te)別(bie)用(yong)(yong)于(yu)確定疲(pi)勞強(qiang)度(du)和疲(pi)勞壽(shou)命和疲(pi)勞極(ji)限，進行有效的疲(pi)勞測試(shi)，被廣(guang)泛用(yong)(yong)來測試(shi)各種金屬(shu)、非金屬(shu)材料及零(ling)部件(jian)抵(di)抗疲(pi)勞斷裂性能、測試(shi)KIC值、S—N曲線等等。

配以各種夾具，可用來測(ce)試(shi)(shi)(shi)各種零部件（如板(ban)材、齒輪、曲軸、螺栓、鏈條、連桿、緊湊拉(la)伸(shen)等等）的疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)壽命，可完成對(dui)(dui)稱疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、不(bu)對(dui)(dui)稱疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、單(dan)向脈動疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、塊譜疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、調制控制疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、高低溫疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗、三點彎、四點彎、扭轉(zhuan)等種類繁多(duo)的疲(pi)勞(lao)(lao)(lao)試(shi)(shi)(shi)驗，以及對(dui)(dui)CT和SEB試(shi)(shi)(shi)樣(yang)進行(xing)斷裂(lie)力(li)學研究，

所有測試都可(ke)以用力、變(bian)形或應(ying)變(bian)控制，同(tong)時添加適(shi)當的設備，還(huan)可(ke)以在各種(zhong)環境條(tiao)件下（例如溫度(du)，腐蝕性(xing)介(jie)質）進(jin)行測試，并進(jin)行扭轉(zhuan)和撓(nao)曲測試。被廣泛地應(ying)用在國防(fang)科研(yan)、高等(deng)院校和工業(ye)生產等(deng)部門。

高頻疲勞靜動態壽命試驗機使用條件

現(xian)場環境條件(jian)

環境(jing)溫(wen)度范圍：（-10～＋45）℃ 環境(jing)相對濕(shi)度：不大于 80%

其它條件

實驗(yan)室(shi)應具有(you)三相(xiang)五線(xian) 380V 交流(liu)電(dian)(dian)源(yuan)及(ji)必要的插線(xian)板(ban)（座），電(dian)(dian)源(yuan)電(dian)(dian)壓

波動范(fan)圍不大于±10%，電源(yuan)配給功(gong)率不小于設備(bei)所需功(gong)率的 1.5 倍。

實(shi)驗室應(ying)具有(you)可靠(kao)的接地(di)線(xian)。

實(shi)驗室地面應為(wei)能夠承載設備(bei)的(de)堅(jian)實(shi)平整地面，如(ru)平整的(de)水泥地面，不需(xu)要特殊地基。

高頻疲勞靜動態壽命試驗機主要技術特點

功(gong)能強大的(de)(de)靜態和動(dong)(dong)態試驗(yan)機，雙(shuang)滾(gun)珠絲(si)杠(gang)，四導向柱。橫梁(liang)移(yi)動(dong)(dong)采用滾(gun)珠絲(si)杠(gang)，傳動(dong)(dong)效(xiao)率(lv)(lv)達(da)(da)90%以上(shang)，是梯形(xing)絲(si)杠(gang)效(xiao)率(lv)(lv)的(de)(de)10倍以上(shang)（因為(wei)高頻(pin)機絲(si)杠(gang)需要(yao)鎖緊，因此梯形(xing)絲(si)杠(gang)傳動(dong)(dong)效(xiao)率(lv)(lv)變(bian)得極低），剛度大、試驗(yan)空間(jian)大。能很(hen)好(hao)地保(bao)證同軸(zhou)度，保(bao)證試驗(yan)數據的(de)(de)精(jing)(jing)確(que)性、穩定性。橫梁(liang)速(su)(su)度可以達(da)(da)到250mm/min以上(shang)，小規(gui)格的(de)(de)高頻(pin)機橫梁(liang)速(su)(su)度可以達(da)(da)到500mm/min。使用梯形(xing)絲(si)杠(gang)，要(yao)達(da)(da)到這一速(su)(su)度需要(yao)很(hen)大的(de)(de)一個電機，高速(su)(su)能力(li)為(wei)操(cao)作者快速(su)(su)裝卸試樣(yang)提供了解決辦法。滾(gun)珠絲(si)杠(gang)傳動(dong)(dong)精(jing)(jing)密(mi)，驅動(dong)(dong)電機小，很(hen)容易實現靜態力(li)實時控制，我(wo)公司產品已經(jing)做到試驗(yan)力(li)的(de)(de)峰谷值(zhi)控制都達(da)(da)到了1%精(jing)(jing)度，已經(jing)與德國(guo)ZwickRoell控制精(jing)(jing)度同等水平(ping)。

50～400Hz高(gao)測試頻率，超(chao)高(gao)頻可以達到1000Hz，縮短了(le)(le)測試時間，提高(gao)了(le)(le)樣品(pin)通量(liang)。試驗(yan)(yan)機的能(neng)耗非常低(di)（僅(jin)為同(tong)等規格電液伺(si)服疲(pi)勞試驗(yan)(yan)機能(neng)耗的2％左右(you)）。

 易于(yu)安裝-無需輔助設(she)備或系(xi)統（例(li)如液壓(ya)系(xi)統，冷卻系(xi)統）。

工作(zuo)臺高度定制(zhi)，方便的操作(zuo)，便于操作(zuo)員(yuan)進行測試試驗。

設備上(shang)帶有彩色顯示(shi)屏控制器(qi)，可(ke)顯示(shi)測量通道，機(ji)器(qi)和測試(shi)(shi)狀態；也可(ke)用于主機(ji)設置(zhi)，手動升(sheng)降橫梁，操作試(shi)(shi)驗進行(xing)，設置(zhi)試(shi)(shi)驗參數(shu)等，直(zhi)接顯示(shi)負荷和加載速(su)度，非常(chang)方便裝卸試(shi)(shi)樣和觀(guan)察裂紋時及時停機(ji)。

HYG全數(shu)(shu)(shu)字(zi)測(ce)(ce)量(liang)控(kong)制(zhi)(zhi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)，具有(you)(you)10kHz的(de)(de)控(kong)制(zhi)(zhi)頻(pin)(pin)率(lv)和24位分(fen)辨率(lv)，24位分(fen)辨率(lv)脈寬調制(zhi)(zhi)，控(kong)制(zhi)(zhi)穩(wen)定(ding)性(xing)(xing)(xing)高(gao)，故障率(lv)低(di)。電氣部分(fen)與以前(qian)的(de)(de)改進(jin)主要表現在(zai)采(cai)用(yong)(yong)了(le)(le)(le)分(fen)布式(shi)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)，控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)采(cai)用(yong)(yong)了(le)(le)(le)DSP系(xi)(xi)(xi)列(lie)嵌入(ru)式(shi)單(dan)片系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)，可(ke)獨立控(kong)制(zhi)(zhi)設備，保證(zheng)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)工作的(de)(de)穩(wen)定(ding)性(xing)(xing)(xing)，即使WINDOWS系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)出現故障，仍能正常控(kong)制(zhi)(zhi)設備工作。全新數(shu)(shu)(shu)字(zi)化控(kong)制(zhi)(zhi)器(qi)(qi)，采(cai)用(yong)(yong)DSP+FPGA架(jia)構，FPGA并(bing)行能力(li)強(qiang)(qiang)，將數(shu)(shu)(shu)據采(cai)集、濾波、邏輯時(shi)序控(kong)制(zhi)(zhi)放到(dao)FPGA中，多任(ren)務(wu)并(bing)行運(yun)(yun)行，每個任(ren)務(wu)不(bu)占用(yong)(yong)其(qi)他任(ren)務(wu)的(de)(de)資源(yuan)。DSP具有(you)(you)強(qiang)(qiang)大的(de)(de)數(shu)(shu)(shu)字(zi)運(yun)(yun)算(suan)能力(li)，對(dui)激勵信號(hao)、反饋信號(hao)進(jin)行解(jie)(jie)(jie)析運(yun)(yun)算(suan)，求解(jie)(jie)(jie)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)頻(pin)(pin)譜特性(xing)(xing)(xing)、幅頻(pin)(pin)特性(xing)(xing)(xing)、相(xiang)(xiang)頻(pin)(pin)特性(xing)(xing)(xing)、阻尼比等參量(liang)，求解(jie)(jie)(jie)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)的(de)(de)諧(xie)振(zhen)(zhen)(zhen)頻(pin)(pin)率(lv)，對(dui)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)加載(zai)控(kong)制(zhi)(zhi)。由(you)于采(cai)用(yong)(yong)了(le)(le)(le)數(shu)(shu)(shu)字(zi)化處理方(fang)(fang)(fang)式(shi)，激振(zhen)(zhen)(zhen)頻(pin)(pin)率(lv)由(you)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)晶振(zhen)(zhen)(zhen)分(fen)頻(pin)(pin)得到(dao)，因(yin)此(ci)振(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)(dong)頻(pin)(pin)率(lv)是與諧(xie)振(zhen)(zhen)(zhen)頻(pin)(pin)率(lv)相(xiang)(xiang)等的(de)(de)單(dan)一(yi)頻(pin)(pin)率(lv)，具有(you)(you)強(qiang)(qiang)的(de)(de)載(zai)波抑制(zhi)(zhi)作用(yong)(yong)，因(yin)此(ci)從根(gen)本上解(jie)(jie)(jie)決了(le)(le)(le)其(qi)他（非主諧(xie)振(zhen)(zhen)(zhen)頻(pin)(pin)率(lv)）振(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)(dong)干擾，解(jie)(jie)(jie)決了(le)(le)(le)如(ru)激振(zhen)(zhen)(zhen)器(qi)(qi)顫動(dong)(dong)(dong)等現象。采(cai)用(yong)(yong)了(le)(le)(le)振(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)(dong)波形(xing)實時(shi)采(cai)集，由(you)波形(xing)數(shu)(shu)(shu)據確定(ding)峰(feng)谷值，真(zhen)(zhen)實體現試(shi)樣受力(li)情(qing)況，不(bu)會(hui)因(yin)為波形(xing)失真(zhen)(zhen)而導致測(ce)(ce)量(liang)不(bu)準的(de)(de)情(qing)況，如(ru)螺栓試(shi)驗(yan)，當(dang)力(li)值接近零點時(shi)，連接剛(gang)度會(hui)降低(di)，即一(yi)個振(zhen)(zhen)(zhen)動(dong)(dong)(dong)周期內，連接剛(gang)度也(ye)即試(shi)樣剛(gang)度不(bu)一(yi)致，即非線性(xing)(xing)(xing)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)，再(zai)采(cai)用(yong)(yong)老式(shi)電路變換的(de)(de)方(fang)(fang)(fang)式(shi)測(ce)(ce)量(liang)動(dong)(dong)(dong)負荷(he)，就會(hui)產生誤(wu)差，用(yong)(yong)波形(xing)實測(ce)(ce)的(de)(de)方(fang)(fang)(fang)式(shi)可(ke)以解(jie)(jie)(jie)決此(ci)問(wen)題。現在(zai)國外(wai)設備（如(ru)德國ZwickRoell）都采(cai)用(yong)(yong)此(ci)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)(fang)式(shi)，同時(shi)本測(ce)(ce)控(kong)系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)也(ye)保留了(le)(le)(le)老式(shi)的(de)(de)測(ce)(ce)量(liang)方(fang)(fang)(fang)式(shi)，只需改變系(xi)(xi)(xi)統(tong)(tong)參數(shu)(shu)(shu)設置即可(ke)。

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